DESKRIPSI LAYANAN | Equipment: Scanning Electron Microscope (SEM) Brand/Tipe: Hitachi SU-3500 dan Jeol JSM-IT200 Fungsi Alat dan Keterbatasan Pengujian : Pengujian dasar mikroskop elektron dengan Scanning Electron Microscope, keluaran yang didapat berupa morfologi dengan…
- Laboratorium Imaging Fisika Maju
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- Puspiptek - Serpong
KST BJ Habibie Gedung 440-442 Laboratorium Imaging Fisika Maju Badan Riset dan Inovasi Nasional - 08119811562
- labkarserpong@brin.go.id
Equipment: Scanning Electron Microscope (SEM)
Brand/Tipe: Hitachi SU-3500 dan Jeol JSM-IT200
Fungsi Alat dan Keterbatasan Pengujian : Pengujian dasar mikroskop elektron dengan Scanning Electron Microscope, keluaran yang didapat berupa morfologi dengan tambahan 2 fitur EDS (point & line, point & map, line & map)
Catatan:
1. Mohon sebelum klik ajukan layanan, dapat melihat JADWAL yang tersedia terlebih dahulu.
2. Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, pelanggan harus melengkapi Form F-10 yang dapat di download pada bagian "Berkas Layanan" lalu pilih "Berkas SOP Layanan". Form F-10 yang telah diisi dalam format .PDF di upload bersama Foto Sampel di bagian "File Dukung Lainnya" dan "File Data Foto".
3. Pastikan bahwa NAMA dan JUMLAH SAMPEL yang terdaftar di ELSA sama dengan JUMLAH SAMPEL yang tertulis pada Form F-10.
4. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Pengelola Laboratorium.
5. Pengembalian dana tidak dapat dilakukan kecuali terdapat kendala teknis di Laboratorium.
6. Apabila sampel akan diambil kembali. Batas waktu pengambilan sampel maksimal 1 bulan (30 hari kerja) setelah pengujian selesai dilaksanakan.
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP Layanan | 0.22 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
